ROE-RI04 # 光學(xué)薄膜測量綜合實驗簡介

伴隨著21世紀(jì)初光電子技術(shù)的迅猛發(fā)展，光學(xué)薄膜器件的應(yīng)用向著性能要求和技術(shù)難度更高、應(yīng)用范圍和知識領(lǐng)域更廣、器件種類和需求數(shù)量更多的方向迅速發(fā)展。為了使學(xué)生適應(yīng)發(fā)展需求、拓展知識范圍、增加知識深度、開闊視野和提升能力，開發(fā)了光學(xué)薄膜測量綜合實驗，針對市場上常用的鍍膜片進行研究，從鍍膜的原理到實際樣品的測試，逐步深入，是學(xué)生了解光學(xué)鍍膜原理和應(yīng)用的良好實驗平臺。

ROE-RI04 # 光學(xué)薄膜測量綜合實驗內(nèi)容

光譜儀的原理與使用實驗；

白光干涉測薄膜厚度實驗；

鍍膜介質(zhì)折射率測量實驗；

單層膜特性模擬實驗；

減反射膜模擬與測試實驗；

增反射膜模擬與測試實驗；

截止濾光片模擬與測試實驗；

帶通濾光片模擬與測試實驗；

分光鏡模擬與測試實驗；

帶通濾光片的角特性實驗。

實驗知識點

減反射膜、增反射膜、金屬膜、分光鏡、二向色鏡、帶通濾光片、白光干涉、薄膜測厚、能量比、反射率、透過率.

實驗效果圖

實驗原理圖